SEM掃描電鏡樣品制備之樣品熱穩(wěn)性要好,且不會被電子束分解
日期:2023-07-17 13:43:31 瀏覽次數(shù):91
電子束下樣品熱穩(wěn)性要好,且不會被電子束分解。在掃描電鏡正常觀察圖像時,電子探針的束流通常為 nA 級別,所以對于大多數(shù)樣品,受熱不是問題。但對一些熱敏材料會出現(xiàn)損傷,觀察部位出現(xiàn)起泡、龜裂、孔洞(熱損傷),甚至有些樣品在高溫下分解,釋放氣體或物質(zhì)(熱分解),當(dāng)他們進入電鏡內(nèi)部,勢必會影響電鏡性能,甚至引起故障。
解決方案:
這類樣品多為生物和有機聚合物樣品,在表面鍍膜可以提高樣品的穩(wěn)定性,觀察時也盡量選擇較小加速電壓和束流強度,以減少電子束對樣品的損傷。
聯(lián)系我們
全國服務(wù)熱線
4001-123-022
公司:微儀光電臺式掃描電子顯微鏡銷售部
地址:天津市東麗區(qū)華明**產(chǎn)業(yè)區(qū)華興路15號A座
相關(guān)資訊推薦
- SEM掃描電鏡的圖像是真實顏色的嗎?揭秘微觀世界的"色彩密碼"
- SEM掃描電鏡總出現(xiàn)問題如何解決?——從故障診斷到系統(tǒng)化維護的全流程指南
- SEM掃描電鏡在地礦學(xué)領(lǐng)域中的應(yīng)用介紹
- SEM掃描電鏡總出現(xiàn)問題如何解決
- 在科研實驗方面SEM掃描電鏡具體能做什么
- SEM掃描電鏡的核心參數(shù)解析:從成像原理到應(yīng)用場景的技術(shù)突破
- SEM掃描電鏡在石油領(lǐng)域中的應(yīng)用介紹
- 掃描電鏡測試結(jié)果異常?掌握這五大維度破解難題
- SEM掃描電鏡在半導(dǎo)體工業(yè)領(lǐng)域中的應(yīng)用介紹
- SEM掃描電鏡在科學(xué)研究中的應(yīng)用介紹